冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

　　試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校，工廠等單位。

　　冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱以冷熱溫度為主要試驗(yàn)環(huán)境做快速轉(zhuǎn)換達(dá)到?jīng)_擊效果的試驗(yàn)設(shè)備，主要用于測(cè)試工業(yè)材料對(duì)熱溫或冷溫的抵抗能力，這種情況類似于不連續(xù)地處于現(xiàn)實(shí)生活中的高溫或低溫中的環(huán)境，冷熱溫度沖擊能使各種工業(yè)產(chǎn)品在短的時(shí)間內(nèi)完成試驗(yàn)，熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，采用PID微電腦控制系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開(kāi)或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使您操作簡(jiǎn)易。

　　試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

　　試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機(jī)組置于機(jī)組箱體內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于機(jī)組的安裝和維修，電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。