溫度循環(huán)實驗高低溫箱咨詢選型資料：
常規(guī)型號有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；
設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；
功率: 因為不同的尺寸配不同的溫度范圍功率會有所不同，請根據(jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
溫度可選擇范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中段）
均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃
高溫恒溫的升溫速率: 1.0～3.0℃/min
低溫恒溫的降溫速率: 0.7～1.0℃/min
主要控制器: LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
度范圍: 設(shè)定度：溫度±0.1℃，指示度：溫度±0.1℃，解析度：0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV
溫度循環(huán)實驗高低溫箱咨詢主要用于測試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫，恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用，運輸和儲存時的性能試驗、實驗，主要用于對電工，電器、電子、光電產(chǎn)品，包括所有工業(yè)品的元器件，零部件，金屬材料及其在模擬濕熱、高溫，低溫的不同氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗，試驗測試后，通過檢定后的成果來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn)，以便提供產(chǎn)品的改良，設(shè)計，生產(chǎn)，檢定及出廠檢驗使用。
廣東愛佩試驗設(shè)備有限公司是生產(chǎn)實驗室的直銷廠家，本公司生產(chǎn)的恒溫恒濕設(shè)備適合任何實驗室使用。愛佩恒溫恒濕設(shè)備滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備；GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法；GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))；GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》；MIL-STD810D方法502.2 標(biāo)準(zhǔn)；GJB 150.9-1986 環(huán)境試驗方法 濕熱試驗；IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗等標(biāo)準(zhǔn)。