當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 步入式環(huán)境實驗室 > 老化房 > AP-LF-8A1電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗箱
簡要描述:電子產(chǎn)品高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 愛佩科技 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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尺寸 | 根據(jù)客戶需求設(shè)計 |
電子產(chǎn)品高溫老化房是針對電子產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等,通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段。
電子產(chǎn)品高溫老化房技術(shù)參數(shù):
內(nèi)箱尺寸:3000 *1700 *1100mm (W* H *D)
滿足標準:·GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法等
溫度范圍:RT+20~100℃
升降溫速率:(非線性 空載)約3℃/min
溫度穩(wěn)定度:±0.5℃
溫度解析度:0.01℃
溫度均勻度:±2.0℃
高溫超溫保護:運轉(zhuǎn)控制溫度高、低溫過溫保護設(shè)定
測試區(qū)超溫保護:加裝超溫保護裝置,以防控制器有異常狀況發(fā)生時導致溫度過高損壞測試樣品。
故障檢知控制界面:外部故障自動偵測保護裝置
動態(tài)高低溫保護:配合設(shè)定條件動態(tài)調(diào)整高低溫保護值.
常溫保護:停機后機臺待測品&測試區(qū)自動降常溫保護
內(nèi)外箱材質(zhì):測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 (SUS#304),外箱烤漆或不銹鋼
同溫層結(jié)構(gòu)設(shè)計:有效避免箱體頂部凝結(jié)之技術(shù)
測試孔:可外接測試電源線及信號用 (直徑50mm)
機臺滑輪:采滑輪移動調(diào)整擺放位置與強力螺栓固定位置(200Kg / 輪 )
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