高低溫測試試驗箱用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進行恒溫、恒濕、高低溫交變濕熱或恒定濕熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設(shè)、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量或研發(fā)之用。

高低溫測試試驗箱技術(shù)參數(shù)：

內(nèi)箱尺寸：40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；

溫度范圍：A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中一段）

均勻度/波動度：±2℃/±0.5℃

升溫速度：常溫?----->150℃約60分鐘（升溫約3℃每分鐘）

降溫速度：常溫?----->-70℃約100分鐘（升溫約1℃每分鐘）

內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304不銹鋼

保溫材質(zhì)：聚氨脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細玻璃纖維綿

門框隔熱：雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

溫度傳感器：鉑金電阻 PT100Ω/MV

制冷系統(tǒng)：“"全封閉風冷式單級/復迭壓縮機制冷方式

循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪

加熱系統(tǒng)：全獨立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器

執(zhí)行標準：

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)