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青島市高低溫沖擊試驗(yàn)箱/小型溫度沖擊箱滿足試驗(yàn)方法 GB/T2423.1-2008（IEC60068-2-1:2007） 低溫試驗(yàn)方法 Ab GB/T2423.2-2008（IEC60068-2-2:2007） 高溫試驗(yàn)方法Bb GB2423.22-87溫度變化試驗(yàn)方法 GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn) GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn) GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn) （每立方米負(fù)載不大于

智能冷熱沖擊試驗(yàn)箱/冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格產(chǎn)品用途　 該產(chǎn)品適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。 二箱式：上部為高溫箱，下部為低溫箱，兩箱之間由樣品架連結(jié)，經(jīng)氣動(dòng)系統(tǒng)在兩箱間切換。 三箱式：該沖擊試驗(yàn)箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為

低溫試驗(yàn)沖擊機(jī)廠家/低溫冷凍試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)： 1.型號：3AP-CJ-50C；3AP-CJ-80C；3AP-CJ-100C；3AP-CJ-150C；3AP-CJ-250C； 2.內(nèi)箱尺寸：35×35×40cm；50×40×40cm；60×40×60cm；60×50×50cm；70×60×60cm； 3.測試設(shè)備可選擇的沖擊溫度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～1

冷熱溫沖擊試驗(yàn)箱/冷熱沖擊溫控箱用途： 冷熱沖擊箱廣泛用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從的IC到重機(jī)械的組件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。 冷熱溫沖擊試驗(yàn)箱/

led環(huán)境溫度沖擊試驗(yàn)箱是樣的意思,指向同設(shè)備”冷熱沖擊試驗(yàn)箱”的別稱。因?yàn)槌Ｓ糜趌ed產(chǎn)品行業(yè),所以被冠上使用產(chǎn)品+設(shè)備名稱。本設(shè)備適用于測試led產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)熱溫和冷溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，即以在Z短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)led成品或配件、led顯示屏、led燈具等相關(guān)產(chǎn)品因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害。